Super X-Ray Areal Density Measurement Gauge

Mga aplikasyon

Ang pagsukod mapahiangay sa labaw pa sa 1600 mm nga gilapdon sa coating. Suportahi ang ultra-high speed scanning.

Ang gagmay nga mga bahin sama sa pagnipis nga mga lugar, mga garas, mga sulab sa seramik mahimong makit-an.

Detalye sa Produkto

Mga Tag sa Produkto

Mga prinsipyo sa pagsukod

Sa diha nga ang ray irradiates sa electrode, ang ray masuhop, mabanaag ug magkatibulaag sa electrode, nga moresulta sa usa ka piho nga attenuation sa ray intensity human sa transmitted electrode kalabot sa insidente ray intensity, ug ang attenuation ratio niini negatibo exponential uban sa gibug-aton o areal Densidad sa electrode.

I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)

I_0 : Initial ray intensity

I: Ray intensity human sa pagpasa sa electrode

λ : Koepisyent sa pagsuyup sa gisukod nga butang

m : Gibag-on/areal density sa gisukod nga butang

Mga highlight sa kagamitan

Pagtandi sa semiconductor sensor ug laser sensor sukod

● Pagsukod sa detalyado nga outline ug mga bahin: millimeter spatial resolution areal density outline measurement nga adunay high-speed ug high-precision (60 m/min)

● Ultra gilapdon nga pagsukod: adaptable sa labaw pa kay sa 1600 mm gilapdon sa sapaw.

● Ultra high speed scanning: adjustable scanning speed sa 0-60 m/min.

● Innovative semiconductor ray detector alang sa pagsukod sa electrode: 10 ka beses nga mas paspas nga tubag kay sa tradisyonal nga mga solusyon.

● Gimaneho sa linear motor nga adunay high-speed ug high-precision: ang katulin sa pag-scan gipataas sa 3-4 ka beses kon itandi sa tradisyonal nga mga solusyon.

● Self-developed high-speed measurement circuits: sampling frequency mao ang sa 200kHZ, pagpalambo sa efficiency ug tukma sa closed loop coating.

● Pagkalkula sa pagkawala sa kapasidad sa pagnipis: ang gilapdon sa lugar mahimong hangtod sa 1 mm nga gamay. Mahimo kini nga tukma nga pagsukod sa mga detalyado nga bahin sama sa mga outline sa lugar nga nagnipis sa ngilit ug mga garas sa coating sa electrode.

Interface sa software

Nahiangay nga pagpakita sa panguna nga interface sa sistema sa pagsukod

● Pagtino sa lugar sa pagnipis

● Pagdeterminar sa kapasidad

● Determinasyon sa scratch

Teknikal nga Parameter

butang	Parameter
Proteksyon sa radyasyon	Ang radiation dosis sa 100mm gikan sa ekipo nawong mao ang ubos pa kay sa 1μsv/h
Katulin sa pag-scan	0-60m/min mapaigoigo
Sample frequency	200k Hz
Panahon sa pagtubag	<0.1ms
Sakup sa pagsukod	10-1000 g/㎡
Ang gilapdon sa lugar	1mm, 3mm, 6mm opsyonal
Ang katukma sa pagsukod	P/T≤10%Integral sa 16 segundos：±2σ：≤±tinuod nga bili×0.2‰ o ±0.06g/㎡; ±3σ：≤±tinuod nga bili×0.25‰ o ±0.08g/㎡;Integral sa 4 segundos：±2σ：≤±tinuod nga bili×0.4‰ o ±0.12g/㎡; ±3σ：≤±tinuod nga bili× 0.6‰ o ±0.18g/㎡;